Métodos de proba e regras de inspección
1. Inspección lote a lote (inspección do grupo A)
Cada lote de produtos debe ser inspeccionado segundo a táboa 1, e todos os elementos da táboa 1 son non destrutivos.
Táboa 1 Inspección por lote
| Grupo | Elemento de inspección | Método de inspección | Criterio | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Aparición | Inspección visual (en condicións normais de iluminación e visión) | O logotipo é claro, o revestimento da superficie e o revestimento están libres de pelados e danos. | 1.5 |
| A2a | Características eléctricas | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) en JB/T 7624—1994 | Polaridade invertida: VFM> 10 USLIRRM> 100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4,1 (25 ℃) en JB/T 7624—1994 | Reclamación aos requisitos | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) en JB/T 7624—1994 | Reclamación aos requisitos | ||
| Nota: USL é o valor límite máximo. | ||||
2. Inspección periódica (inspección do grupo B e do grupo C)
Segundo a Táboa 2, os produtos finalizados na produción normal deben ser inspeccionados polo menos un lote do Grupo B e do Grupo C cada ano, e os elementos de inspección marcados con (D) son probas destrutivas.Se a inspección inicial non está cualificada, pódese volver a inspeccionar a mostraxe adicional segundo o cadro A.2 do apéndice, pero só unha vez.
Táboa 2 Inspección periódica (Grupo B)
| Grupo | Elemento de inspección | Método de inspección | Criterio | Plan de mostraxe | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Ciclo de temperatura (D) seguido de selado |
| Medición despois da proba: VFM≤1,1 USLIRRM≤2USLnon fuga | 6 | 1 |
| CRRL | Indique brevemente os atributos relevantes de cada grupo, o VFMe máis euRRMvalores antes e despois da proba, e a conclusión da proba. | ||||
3. Inspección de identificación (inspección do grupo D)
Cando o produto está finalizado e posto en avaliación de produción, ademais das inspeccións do grupo A, B, C, a proba do grupo D tamén debe realizarse segundo a táboa 3, e os elementos de inspección marcados con (D) son probas destrutivas.A produción normal de produtos finalizados probarase polo menos un lote do grupo D cada tres anos.
Se a inspección inicial falla, pódese volver a inspeccionar a mostraxe adicional de acordo coa táboa do apéndice A.2, pero só unha vez.
Táboa 3 Proba de identificación
| No | Grupo | Elemento de inspección | Método de inspección | Criterio | Plan de mostraxe | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Ensaio de carga do ciclo térmico | Tempos de ciclo: 5000 | Medición despois da proba: VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Choque ou vibración | 100 g: mantén 6 ms, forma de onda semisinusoidal, dúas direccións de 3 eixes mutuamente perpendiculares, 3 veces en cada dirección, un total de 18 veces. 20 g: 100 ~ 2000 Hz, 2 h de cada dirección, 6 h en total. | Medición despois da proba: VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Indique brevemente os datos de atributos relevantes de cada grupo, o VFM, IRRMe máis euDRMvalores antes e despois da proba, e a conclusión da proba. | |||||
Marcado e embalaxe
1. Marca
1.1 Marca no produto incluído
1.1.1 Número de produto
1.1.2 Marca de identificación do terminal
1.1.3 Nome da empresa ou marca comercial
1.1.4 Código de identificación do lote de inspección
1.2 Logotipo na caixa ou instrucións adxuntas
1.2.1 Modelo de produto e número estándar
1.2.2 Nome e logotipo da empresa
1.2.3 Sinais a proba de humidade e de choiva
1.3 Paquete
Os requisitos de embalaxe do produto deben cumprir coa normativa nacional ou cos requisitos do cliente
1.4 Documento do produto
O modelo do produto, o número estándar de implementación, os requisitos especiais de rendemento eléctrico, o aspecto, etc.
Odiodo de soldaduraproducido por Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor aplícase amplamente en soldadores por resistencia, máquinas de soldadura de frecuencia media e alta de ata 2000 Hz ou superior.Cunha tensión máxima de avance ultra baixa, resistencia térmica ultra baixa, tecnoloxía de fabricación de última xeración, excelente capacidade de substitución e rendemento estable para os usuarios globais, o díodo de soldadura de Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor é un dos dispositivos máis fiables de China. produtos semicondutores.
Hora de publicación: 14-Xun-2023